
產(chǎn)品說明
適用于光通訊模塊、有源無緣器件、光芯片、電芯片、薄膜金屬化基板等分立器件的外觀尺寸,高低差值的測量
產(chǎn)品特性
高度測量
平面度測量
尺寸測量
分辨率0.1um
可增加AOI模塊
應(yīng)用領(lǐng)域

汽車電子領(lǐng)域
定位于為半導(dǎo)體封裝制程提供整體解決方案,針對半導(dǎo)體的固晶、檢測、貼合、測試等制程 所面臨的技術(shù)和工藝難題進(jìn)行專項(xiàng)研究,并取得了多項(xiàng)技術(shù)突破。

光通信領(lǐng)域
定位于為半導(dǎo)體封裝制程提供整體解決方案,針對半導(dǎo)體的固晶、檢測、貼合、測試等制程 所面臨的技術(shù)和工藝難題進(jìn)行專項(xiàng)研究,并取得了多項(xiàng)技術(shù)突破。

消費(fèi)電子領(lǐng)域
定位于為半導(dǎo)體封裝制程提供整體解決方案,針對半導(dǎo)體的固晶、檢測、貼合、測試等制程 所面臨的技術(shù)和工藝難題進(jìn)行專項(xiàng)研究,并取得了多項(xiàng)技術(shù)突破。

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我們專注于高精密的半導(dǎo)體設(shè)備研發(fā)和制造,為半導(dǎo)體封裝制程提供整體解決方案。
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